اندازه گيري فشارهاي كم براي بسياري از كاربردهاي علمي و صنعتي در زمينه هاي فيزيك، شيمي، متالورژي، الكترونيك، پزشكي، صنايع غذايي، پتروشيمي، هوافضا و غيره حائز اهميت است. خصوصاٌ كه در سال هاي اخير علاقه به فنآوري خلاء بخاطر نقش كليدي آن در فنآوري هاي پيشرفته و نانو به شدت رشد نموده است. از طرف ديگر، وجود دستگاهي كارآمد و مناسب قيمت براي اندازه گيري دقيق ميزان خلاء در محدوده ي وسيع از فشار حائز اهميت است. حادث شدن اختلاف پتانسيل الكتريكي به دليل وجود اختلاف دمايي در يك بدنه جامد را اثر سيبك مي گويند. در اختراع حاضر، ابتدا ارتباط بين اثر سيبك در بدنه ي نيمه هادي سراميكي و فشار محيط اطراف آن بيان شده، سپس از اين ارتباط براي اندازه گيري فشار محيط استفاده مي شود. موضوع اختراع حاضر دستگاهي است كه براي اولين بار امكان اندازه گيري فشارهاي كم را برپايه اندازه گيري اثر سيبك براي صنعتگران و پژوهشگران فراهم مي سازد.